Jako Koło Naukowe Politechniki Warszawskiej zajmujemy się kompleksowym projektowaniem i wykonywaniem urządzeń pomiarowych i elektronicznych: od projektu koncepcyjnego, poprzez schemat elektryczny, projekt płytki drukowanej PCB, projekt obudowy, oprogramowanie (firmware i software) do uruchomienia finalnego oraz testowania urządzenia. Zapraszamy do pracowni PERG, Wydział EiTI, pok. 603B oraz 230.

Spis treści

Submitted by tjanicki on Mon, 07/09/2012 - 16:08

Spis treści

1. Wstęp
   1.1. Systemy rozproszone
   1.2. Modularny System Fotoniczny
   1.3. Pełny Wezeł Modularnego Systemu Fotonicznego
       1.3.1. Płyta UMC
       1.3.2. Płyta nakładkowa DAC
       1.3.3. Płyta nakładkowa DIC
       1.3.4. Konfiguracja sprzetowa PWMSF
2. Geneza, cel i założenia pracy
3. Koncepcja systemu pomiarowego
   3.1. Warstwa sprzetowa
       3.1.1. Konfiguracja i metoda komunikacji
       3.1.2. Sposób sterowania systemem
       3.1.3. Wykorzystanie i rozplanowanie zasobów
   3.2. Warstwa programowa
4. Realizacja modułów sprzętowych
   4.1. Zestaw modułów po stronie UMC
       4.1.1. Kontroler systemowy RS
       4.1.2. Kontroler systemowy USB
       4.1.3. Host_PCI_plug oraz bufory wej/wyj
   4.2. Zestaw modułów po stronie DAC
       4.2.1. Slave_PCI_plug oraz bufory wej/wyj
       4.2.2. Kontrolery pamięci i przetworników A/C
       4.2.3. Kontrolery pamięci i przetworników C/A
       4.2.4. Kontroler SPI
       4.2.5. Dzielnik Zegarów CLK_DIV
       4.2.6. Blok CLK_DISTR_REG
   4.3. Zestaw modułów po stronie DIC
       4.3.1. Kontroler GPIB
       4.3.2. Kontroler RS232C
       4.3.3. Kontroler I2C
       4.3.4. Diody Led
5. Realizacja aplikacja użytkownika
   5.1. Konfiguracja portów
       5.1.1. Konfiguracja zegarów oraz układów dystrybucji sygnału zegarowego
   5.2. Konfiguracja i sterowanie przetwornikami C/A
   5.3. Konfiguracja i sterowanie przetwornikami A/C
   5.4. Sterowanie interfejsem GPIB
   5.5. Sterowanie interfejsem I2C
   5.6. Sterowanie interfejsem RS232C
6. Testy
   6.1. Testy kontrolerów
   6.2. Testy generacji i akwizycji sygnałów
       6.2.1. Test generacji
       6.2.2. Test akwizycji
   6.3. Test sterowania interfejsem GPIB
       6.3.1. Wyniki procedury identy?kacji
       6.3.2. Wyniki procedury pomiaru częstotliwości
       6.3.3. Wynik procedury transmisji sygnału do TDS7404B
   6.4. Test sterowania interfejsem I2C
   6.5. Test sterowania interfejsem RS232C
7. Podsumowanie
   7.1. Zrealizowane cele
   7.2. Możliwości wykorzystania
   7.3. Możliwości dalszego rozwoju